| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=многопараметровые измерения<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.86(043.3)/Л 278 рукописный текст
Автор(ы) : Латышева, Екатерина Викторовна
Заглавие : Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 : защищена 18.11.2016
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2016
Колич.характеристики :127 л.: ил., табл. + 1 автореф.
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: л. 104-127 (184 назв.)
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]
УДК : 537.86(043.3) + 621.382(043.3)
Предметные рубрики: физика-- электромагнетизм
радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры--свч-методы--волноводно-диэлектрический резонанс--удельная электропроводность--многопараметровые измерения--нанометровые металлические слои--фотонные кристаллы--спектры отражения--эпитаксиальные слои
Экземпляры :ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)(1)
Свободны : ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.86(043.3)/Л 278 рукописный текст
Автор(ы) : Латышева, Екатерина Викторовна
Заглавие : Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2016
Колич.характеристики :22, [1] с.: ил.
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: с. 21-22 (18 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 537.86(043.3) + 621.382(043.3)
Предметные рубрики: физика-- электромагнетизм
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры--свч-методы--волноводно-диэлектрический резонанс--удельная электропроводность--многопараметровые измерения--нанометровые металлические слои--фотонные кристаллы--спектры отражения--эпитаксиальные слои
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 620.3(075.8)/М 545
Автор(ы) : Биленко, Давид Исаакович, Вениг, Сергей Борисович, Терин, Денис Владимирович, Белобровая, Ольга Яковлевна
Заглавие : Методы и средства контроля процессов и структур in situ: учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч./ Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. Ч. 2
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2016
Колич.характеристики :114, [2] с.: рис.
Коллективы : Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Серия: Материаловедение и технология новых материалов/ гл. ред. С. Б. Вениг
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 978-5-292-04393-5: 324.31, 324.32, р.
УДК : 620.3(075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры--in situ--многопараметровые измерения--спектральная эллипсометрия--спектрофотометрия--массоперенос--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--материаловедение--нанотехнологии--обработка данных--контроль
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(35)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(35)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)