| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ЛАНЬ" (1)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (6)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=микроанализ<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 565399 рукописный текст
547.551+543.42-6+546.91/Б91
Автор(ы) : Бурмистрова, Наталия Анатольевна
Заглавие : Влияние поверхностно-активных веществ на физико-химические свойства редокс-реагентов ряда дифениламина : дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук
Выходные данные : Саратов, 2002
Колич.характеристики :181 л. с. + 1 автореф.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]: [б. ц.]
УДК : [543.06:546.9:547.551.2](043.3)
Предметные рубрики: химия-- аналитическая химия-- неорганическая химия-- органическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифениламины--поверхностно-активные вещества (пав)--кислотно-основное равновесие--каталитическое окисление--некаталитическое окисление--металлы платиновой группы--микроанализ--кинетические методы анализа--рутений--палладий--иридий
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 538469
543.613.11/М50
Автор(ы) : Менке Г., Менке Л.
Заглавие : Введение в лазерный эмиссионный микроспектральный анализ
Параллельн. заглавия :Einfuhrung in die Laser-Mikro-Emissionsspektral-Analyse
Выходные данные : Москва: Мир, 1968
Колич.характеристики :250, [2] с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]: 30.00 р.
УДК : 543.42:621.373.826
Предметные рубрики: химия-- аналитическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): спектральный анализ--лазерный микроспектральный эмиссионный анализ --лазеры--микроанализ--лазерная спектроскопия
Экземпляры : всего : ОХФ(3)
Свободны : ОХФ(3)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 437337
33(075)/А93
Автор(ы) : Аукуционек, Сергей Павлович
Заглавие : Теория перехода к рынку
Выходные данные : Москва: SvR-Аргус, 1995
Колич.характеристики :103, [1] с.: ил.
Примечания : На тит. л. и обл.: Прогр."Обновление гуманитар. образования в России"
ISBN, Цена 5-86949-018-9: 7000.00 р.
УДК : 330.101.5(07)
Предметные рубрики: экономика-- экономические науки
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рынок--переход к рынку--спрос и предложение--микроанализ--плановая экономика--рыночная экономика--экономические кризисы--рыночная система--равновесный анализ--экономические стимулы
Экземпляры : всего : ОХФ(3)
Свободны : ОХФ(3)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 112921
620.22/Б 874
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :377, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377
ISBN, Цена 5-94836-018-0 (в пер.): 191.88 р.
ISBN, Цена 0 471 98501 5 (англ.): Б.ц.
УДК : [620.22:539.2](075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроструктуры--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--микроанализ--химический анализ
Экземпляры : всего : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Свободны : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)