| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=метрология поверхностей<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 820019
Автор(ы) : Уайтхауз, Дэвид
Заглавие : Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2009
Колич.характеристики :471, [1] с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 469-471 (55 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91559-023-5 (в пер.): 891.00 р.
ISBN, Цена 1 9039 9660 0: Б.ц.
УДК : 006(075.8+038)
Предметные рубрики: метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метрология--метрология поверхностей--метрологическое обеспечение--средства измерений--измерения--надежность измерений
Экземпляры : всего : ОУОЕН(10), ОХФ(3)
Свободны : ОУОЕН(10), ОХФ(3)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 454840
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учеб. пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Издательский дом "Интеллект", 2012
Колич.характеристики :400 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5: 1246.30, 1589.00, р.
УДК : 621.38-022.532:006.91(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--инженерная метрология--нанометрология--прецизионные средства измерений--интерферометрия--метрология поверхностей--сканирующая зондовая микроскопия--сканирующая электронная микроскопия--координатная метрология--измерения массы--измерения силы
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(29)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(29)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)