| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=кремния диоксид<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 993229
621.382-181/К78
Автор(ы) : Красников, Г. Я.
Заглавие : Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС: в 2 ч./ Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. Ч. 2
Выходные данные : Москва: Микрон-Принт, 1999
Колич.характеристики :216 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-93497-001-1: 30.00 р.
УДК : 621.382
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сверхбольшие интегральные схемы (сбис)--технологические процессы (тп)--кремниевые микросхемы--электрические свойства--геттерирования метод--кремний--кремния диоксид
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 778400
621.382-181/К78
Автор(ы) : Красников, Г. Я.
Заглавие : Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС: в 2 ч./ Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. Ч. 1
Выходные данные : Москва: Микрон-Принт, 1999
Колич.характеристики :226 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-93497-001-1: 30.00 р.
УДК : 621.382
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сверхбольшие интегральные схемы (сбис)--кремниевые микросхемы--дефекты кристаллов--технологические процессы (тп)--кремний--контроль технологический--кремния диоксид
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)