Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :1

В других БД по вашему запросу найдено:

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>KL=координатная метрология<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 454840
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учеб. пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Издательский дом "Интеллект", 2012
Колич.характеристики :400 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5: 1246.30, 1589.00, р.
УДК : 621.38-022.532:006.91(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--инженерная метрология--нанометрология--прецизионные средства измерений--интерферометрия--метрология поверхностей--сканирующая зондовая микроскопия--сканирующая электронная микроскопия--координатная метрология--измерения массы--измерения силы
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(29)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(29)
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)