| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Боуэн, Д. К.$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 242071
539.26+548.73/Б86
Автор(ы) : Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
Заглавие : Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : монография
Параллельн. заглавия :High resolution X-RAY diffractometry and topography
Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2002
Колич.характеристики :273, [7] с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-02-024963-7: 105.00 р.
УДК : 539.26:621.315.592 + 548.73
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская дифрактометрия--дифрактометрия--рентгеновская топография--топография--дифракция рентгеновских лучей--высокоразрешающая дифрактометрия--дефекты в кристаллах--синхротронное излучение--эпитаксиальные слои--материаловедение--тонкие пленки--рассеяния теория
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)