| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Публикации учёных СГУ - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (2)Электронная библиотека (1)БД выпускных квалификационных работ (1)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>A=Латышева, Екатерина Викторовна$<.>
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Measurements of Electrophysical Characteristics of Semiconductor Structures with the Use of Microwave Photonic Crystals/D. A. Usanov [и др.] // Semiconductors, 2016. т.Vol. 50,N no. 13.-С.1759-1763
2.

Контроль параметров структуры нанометровая металлическая пленка – диэлектрик методом волноводно-диэлектрического резонанса/А. Д. Усанов [и др.] // Взаимодействие сверхвысокочастотного, терагерцового и оптического излучения с полупроводниковыми микро- и наноструктурами, метаматериалами и биообъектами. -Саратов:Саратовский источник, 2016.-С.121-124
3.

Использование волноводно-диэлектрического резонанса для измерения параметров нанометровых металлических пленок в слоистых структурах/Д. А. Усанов [и др.] // Электроника и микроэлектроника СВЧ. -Санкт-Петербург:Издательство Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета "ЛЭТИ", 2016,N Т. 2.-С.290-294
4.

Измерение параметров нанометровых металлических пленок в слоистых структурах с использованием волноводно-диэлектрического резонанса/Д. А. Усанов [и др.] // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КРЫМИКО'2016). -Севастополь:Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Севастопольский государственный университет" , 2016. т.Т. 9.-С.2023-2029
 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)