| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Публикации учёных СГУ - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Mikhailov, A. I.$<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Kozhevnikov I. O. The optical radiation intensity measuring method using a gaas microsensor with frequency output applicable for the micro- and nano-objects/I. O. Kozhevnikov, A. I. Mikhailov // 6th International conference "Nanoparticles, nanostructured coatings and microcontainers: technology, properties, applications" = 6-я международная конференция "Наночастицы, наноструктурированные покрытия и микроконтейнеры: технология, свойства и области применения". -Саратов:Издательство Саратовского университета, 2015.-С.42
2.

Features of field (auto-electron) emission from submicron projections of InSb rough surfaces/A. I. Mikhailov [и др.] // Tech Connect World Innovation 2015. -Washington, DC , 2015
3.

Mikhailov A. I. Peculiarities of Field Electron Emission from Submicron Protrusions on a Rough InSb Surface /Жуков Н. Д., Кабанов В. Ф., Михайлов А. И. // Technical Physics Letters, 2015. т.Vol. 41,N № 6.-С.568-570
4.

Mikhailov A. I. Manifestation of Size Quantization on Protrusions of a Rough A3B5 Semiconductor Surface/A. I. Mikhailov, V. F. Kabanov, N. D. Zhukov // Technical Physics Letters, 2015. т.Vol. 41,N no. 11.-С.1065-1067
5.

Identification of nucleotides by measuring their current during DNA translocation through a nanopore/A. A. Kletsov [и др.] // Russian Chemical Bulletin, 2016. т.Vol. 64,N no. 10.-С.2325-2329
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)