Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 681.3/И 88 Заглавие : Использование языка структурированных запросов SQL : Методические указания к расчетной работе Выходные данные : Нижний Новгород: Нижегородский государственный архитектурно-строительный университет, ЭБС АСВ, 2010 Колич.характеристики :38 с. Примечания : Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS. ISBN, Цена 2227-8397: Б.ц. УДК : 681.3 ББК : 32.97 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): язык--структурированный запрос--sql Аннотация: Методические указания к расчетной работе для студентов направлений 230200.62 Информационные системы, 080500.62 Менеджмент и специальности 080502.65 Экономика и управление на предприятии (в строительстве). Методические указания содержат краткое описание языка структурированных запросов SQL, варианты заданий и состав расчетной работы по SQL. Доп. точки доступа: Лахов, А. Я. Сафонов, К. А.

Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 004/В 42 Заглавие : Визуальное программирование на основе библиотеки MFC : Методические указания к лабораторным работам по курсу «Визуальное программирование» для студентов направления 09.03.02 Информационные системы и технологии Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2016 Колич.характеристики :57 с. Примечания : Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS. ISBN, Цена 2227-8397: Б.ц. УДК : 004 ББК : 32.97 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): визуальное программирование--проектирование интерфейса--графический интерфейс--разработка Аннотация: Методические указания содержат описание проектирования графического интерфейса пользователя на Visual C++, задания и примеры выполнения лабораторных работ в среде разработки Microsoft Visual Studio 2010. Доп. точки доступа: Лахов, А. Я. Борщиков, Р. Е.

Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 006/М 54 Автор(ы) : Анашина О. Д., Андрюшечкин С. Е., Аневский С. И., Бражников В. В., Булыгин Ф. В., Головань Л. А., Горшкова Т. Б., Гусев А. С., Демин А. В., Заботнов С. В., Золотаревский С. Ю., Золотаревский Ю. М., Иванов В. С., Ильин А. П., Качак В. В., Кашкаров П. К., Клековкин И. В., Кононогов С. В., Коршунов А. В., Крутиков В. Н., Котюк А. Ф., Лахов В. М., Левин А. Д., Левин Г. Г., Лысенко В. Г., Лясковский В. Л., Мазуренко С. Н., Минаева О. А., Минаев Р. В., Морозова С. П., Новиков Н. Ю., Окрепилов В. В., Панкина Г. В., Панов В. И., Рукин Е. М., Савченко А. Г., Саприцкий В. И., Тодуа П. А., Толбанова Л. О., Федянин А. А., Хлевной Б. Б., Широков С. С., Шувалов Г. В., Элькин Г. И., Заглавие : Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : Учебное пособие/ О. Д. Анашина, С. Е. Андрюшечкин, С. И. Аневский и др. . -Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии Выходные данные : Москва: Логос, 2011 Колич.характеристики :591 с. Примечания : Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS. ISBN, Цена 978-5-98704-613-5: Б.ц. УДК : 006 ББК : 30.10 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнология--метрология--наноиндустрия--метрологическое обеспечение Аннотация: Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы». Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нанометрологии. Доп. точки доступа: Анашина, О. Д. Андрюшечкин, С. Е. Аневский, С. И. Бражников, В. В. Булыгин, Ф. В. Головань, Л. А. Горшкова, Т. Б. Гусев, А. С. Демин, А. В. Заботнов, С. В. Золотаревский, С. Ю. Золотаревский, Ю. М. Иванов, В. С. Ильин, А. П. Качак, В. В. Кашкаров, П. К. Клековкин, И. В. Кононогов, С. В. Коршунов, А. В. Крутиков, В. Н. Котюк, А. Ф. Лахов, В. М. Левин, А. Д. Левин, Г. Г. Лысенко, В. Г. Лясковский, В. Л. Мазуренко, С. Н. Минаева, О. А. Минаев, Р. В. Морозова, С. П. Новиков, Н. Ю. Окрепилов, В. В. Панкина, Г. В. Панов, В. И. Рукин, Е. М. Савченко, А. Г. Саприцкий, В. И. Тодуа, П. А. Толбанова, Л. О. Федянин, А. А. Хлевной, Б. Б. Широков, С. С. Шувалов, Г. В. Элькин, Г. И. Крутиков, В. Н.