| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М") (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Филимонова, Н. И.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

    Филимонова, Н. И.
    Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Н. И. Филимонова, А. А. Величко, Н. Е. Фадеева. - Методы электронной микроскопии, 2022-08-28. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - ISBN 2227-8397 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
62
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- ПЭМ -- СЭМ -- электронный пучок -- микроскоп -- линза
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.
Найти похожие
2.

    Филимонова, Н. И.
    Методы электронной спектроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Н. И. Филимонова, А. А. Величко, Н. Е. Фадеева. - Методы электронной спектроскопии, 2022-08-28. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 68 с. - ISBN 2227-8397 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
62
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
электронная спектроскопия -- твердое тело -- электрон -- ЭОС -- энергетическая потеря -- спектрометр
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной спектроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов определения физических и структурных свойств материалов методами электронной спектроскопии. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.
Найти похожие
3.

    Филимонова, Н. И.
    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Н. И. Филимонова, Б. Б. Кольцов. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
621.385
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Найти похожие
4.

    Величко, А. А.
    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : Учебное пособие / А. А. Величко, Н. И. Филимонова. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
621.382
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Филимонова, Н. И.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)