| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (2)ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М") (2)ЭБС "РУКОНТ" (8)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (6)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=539.26<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Анищик, В. М.
    Дифракционный анализ [Электронный ресурс] : Учебное пособие / В. М. Анищик, В. В. Понарядов, В. В. Углов. - Дифракционный анализ, 2020-02-24. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 215 с. - ISBN 978-985-06-1834-4 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный анализ -- рентгеновский луч -- структурный анализ -- рентгенотехника -- радиационное материаловедение
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Понарядов, В. В.
Углов, В. В.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)