| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)ЭБС "РУКОНТ" (1)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>A=Ловецкий, $<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Егоров, А. А.
    Метод связанных волн расчета дифракционных тонкопленочных оптических структур [Электронный ресурс] : Учебное пособие / А. А. Егоров, К. П. Ловецкий. - Москва : Российский университет дружбы народов, 2011. - 168 с. - ISBN 978-5-209-03572-5 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
51
ББК 22.1

Кл.слова (ненормированные):
связанные волны -- оптическая структура -- тонкопленочная дифракционная решетка -- бинарная оптическая решетка
Аннотация: Пособие посвящено изложению метода связанных волн и его применениям к решению задач расчета тонкопленочных дифракционных решеток. Метод является наиболее эффективным в случае анализа бинарных оптических решеток, однако с дополнительными условиями применим также и к решеткам с более сложным профилем. Приведен подробный вывод расчетных формул для случаев ТЕ- и ТМ-поляризованных волн, а также случая конической дифракции. Изложены численно устойчивые методы определения интенсивностей пропускания и отражения дифракционных решеток. Для студентов бакалавриата, обучающихся по направлениям 010300 «Математика. Компьютерные науки», 010400 «Информационные технологии» или 010500 «Прикладная математика и информатика», и студентов магистратуры, обучающихся по магистерской программе «Математическое моделирование оптических наноструктур». Может быть полезно для студентов и аспирантов, обучающихся по направлениям (специальностям) 551906 «Компьютерная оптика», 551901 «Прикладная оптика», 511500 «Радиофизика», 510201 «Математическая физика» и 510417 «Теоретическая и математическая физика».
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Ловецкий, К. П.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)