| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Публикации учёных СГУ (3)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (9)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>A=Даньшина, $<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Блесман, А. И.
    Теоретические основы методов исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / А. И. Блесман, В. В. Даньшина, Д. А. Полонянкин. - Омск : Омский государственный технический университет, 2017. - 78 с. - ISBN 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
наноматериал -- исследование -- материаловедение -- метод -- электроника -- микроскопия -- рентген -- дифрактометрия
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
Перейти к внешнему ресурсу Перейти к просмотру издания


Доп. точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)