| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>A=Анашина, $<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 006/М 54
Автор(ы) : Анашина О. Д., Андрюшечкин С. Е., Аневский С. И., Бражников В. В., Булыгин Ф. В., Головань Л. А., Горшкова Т. Б., Гусев А. С., Демин А. В., Заботнов С. В., Золотаревский С. Ю., Золотаревский Ю. М., Иванов В. С., Ильин А. П., Качак В. В., Кашкаров П. К., Клековкин И. В., Кононогов С. В., Коршунов А. В., Крутиков В. Н., Котюк А. Ф., Лахов В. М., Левин А. Д., Левин Г. Г., Лысенко В. Г., Лясковский В. Л., Мазуренко С. Н., Минаева О. А., Минаев Р. В., Морозова С. П., Новиков Н. Ю., Окрепилов В. В., Панкина Г. В., Панов В. И., Рукин Е. М., Савченко А. Г., Саприцкий В. И., Тодуа П. А., Толбанова Л. О., Федянин А. А., Хлевной Б. Б., Широков С. С., Шувалов Г. В., Элькин Г. И.,
Заглавие : Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : Учебное пособие/ О. Д. Анашина, С. Е. Андрюшечкин, С. И. Аневский и др. . -Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии
Выходные данные : Москва: Логос, 2011
Колич.характеристики :591 с.
Примечания : Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
ISBN, Цена 978-5-98704-613-5: Б.ц.
УДК : 006
ББК : 30.10
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнология--метрология--наноиндустрия--метрологическое обеспечение
Аннотация: Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы». Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нанометрологии.
Перейти к внешнему ресурсу:  Перейти к просмотру издания    ID= 33401 (дата размещения: 04.06.2019)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)