| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "IPRBOOKS" - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Пасько, Т. В.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 658.562/П 19
Автор(ы) : Пасько Т. В., Таров В. П.,
Заглавие : Оценка качества технических систем : Учебное пособие для студентов вузов/ Т. В. Пасько, В. П. Таров
Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2014
Колич.характеристики :96 с.
Примечания : Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
ISBN, Цена 978-5-8265-1247-0: Б.ц.
УДК : 658.562
ББК : 65.29
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оценка качества--техническая система--управление качеством--качество продукции--качество труда--метод swot-анализа--контроль качества--сертификация--контроль продукции
Аннотация: Рассмотрены теоретические основы и практические аспекты управления качеством продукции. Значительное внимание уделяется количественной оценке качества и методам управления качеством продукции. Выполняемые работы способствуют закреплению теоретического материала и приобретению практических навыков, освоению методов принятия решений. Предназначено для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 221700 «Стандартизация и метрология», 151000 «Технологические машины и оборудование, 152200 «Наноинженерия». Содержание пособия также востребовано при освоении основной образовательной программы по направлениям 221400 «Управление качеством», 222000 «Инноватика», 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» в качестве методической помощи при выполнении практических заданий по дисциплине «Оценка качества технических систем».
Перейти к внешнему ресурсу:  Перейти к просмотру издания    ID= 63888 (дата размещения: 04.06.2019)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.22/Д 44
Автор(ы) : Шубин И. Н., Блинов С. В., Пасько Т. В., Баранов А. А., Блохин А. Н.,
Заглавие : Диагностика физико-механических характеристик наноматериалов. Часть 2 : Учебное пособие для бакалавров технических вузов направлений подготовки 15.03.02, 27.03.05, 28.03.01, 28.03.02/ И. Н. Шубин, С. В. Блинов, Т. В. Пасько и др
Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2015
Колич.характеристики :80 с.
Примечания : Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
ISBN, Цена 978-5-8265-1468-9: Б.ц.
УДК : 620.22
ББК : 35.50-78
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диагностика--физико-механическая характеристика--углеродный наноматериал--модифицированный материал--полимерный материал--углеродная нанотрубка
Аннотация: Рассмотрены вопросы методик и экспериментальной базы оценки физико-механических характеристик наноразмерных материалов, материалов, модифицированных углеродными наноматериалами (УНМ), рассмотрены методы диагностики свойств и области применения углеродного наноматериала на примере УНМ серии «Таунит». Приведён лабораторный практикум, отражающий способы количественного определения как физико-механических, так и физико-химических характеристик, как наноразмерных, так и модифицированных материалов. Предназначено для бакалавров технических вузов направлений подготовки 15.03.02, 27.03.05, 28.03.01, 28.03.02, изучающих основы нанотехнологий, диагностику наносистем, нанометрологию всех форм обучения. Представляет интерес для инженеров-конструкторов и технологов предприятий различных отраслей промышленности.
Перейти к внешнему ресурсу:  Перейти к просмотру издания    ID= 64082 (дата размещения: 04.06.2019)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)