| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М") - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (20)ЭБС "РУКОНТ" (11)ЭБС "IPRBOOKS" (20)Публикации учёных СГУ (4)БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ (1)БД выпускных квалификационных работ (3)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (60)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>A=Величко, $<.>
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 503086
Автор(ы) : Маклецов В.Г., Величко В.В., Забильский В.В.
Заглавие : Коррозионное растрескивание мартенситостареющих сталей во влажном воздухе
Выходные данные : Ижевск: ФГБОУ ВПО "Удмуртский Государственный университет", 2004
Колич.характеристики :10 с.
Цена : Б.ц.
Перейти к внешнему ресурсу:  Внешний ресурс    ID= 503086 (дата размещения: 14.06.2019)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 546011
Автор(ы) : Величко А.А., Кольцов Б.Б.
Заглавие : Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2012
Колич.характеристики :28 с.
Цена : Б.ц.
Перейти к внешнему ресурсу:  Внешний ресурс    ID= 546011 (дата размещения: 14.06.2019)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 546528
Автор(ы) : Величко А.А., Филимонова Н.И.
Заглавие : Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2014
Колич.характеристики :227 с.
Цена : Б.ц.
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экс- периментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных мате- риалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в со- временной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследова- ния микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследова- ния микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Перейти к внешнему ресурсу:  Внешний ресурс    ID= 546528 (дата размещения: 14.06.2019)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 959379
Автор(ы) : Величко Ю.В.
Заглавие : Тоталитаризм : Учебное пособие . -2
Выходные данные : Москва: Издательство "Флинта", 2017
Колич.характеристики :94 с.
ISBN, Цена 9785976530607: Б.ц.
Аннотация: В учебном пособии дан исторический анализ двух политических моделей государства мобилизационного типа — коммунистического режима в Советском Союзе и национал-социализма в Германии. Показаны противоположность идеологий и целей политических режимов, типологическое сходство, сходство механизмов укрепления и сохранения власти. Раскрыты исторические предпосылки и причины формирования тоталитарных режимов, а также причины неизбежности их гибели. Для студентов бакалавриата и магистратуры, обучающихся по направлению подготовки «История», для студентов других гуманитарных направлений и специальностей, изучающих социальную историю мира и России в новейшее время.
Перейти к внешнему ресурсу:  Внешний ресурс    ID= 959379 (дата размещения: 14.06.2019)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)