Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 608080 Автор(ы) : Рид, Стефан Дж. Б. Заглавие : Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : учебное пособие Выходные данные : Москва: Техносфера, 2008 Колич.характеристики :229, [3] с.: ил. Серия: Мир наук о Земле Примечания : Библиогр.: с. 205-215. - Предм. указ.: с. 216-219 ISBN, Цена 978-5-94836-177-2 (в пер.): 450.00 р. ISBN, Цена 0-521-84875-X (англ.): Б.ц. УДК : 55 Предметные рубрики: геология-- геология Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): геология--электронно-зондовый микроанализ--растровая электронная микроскопия Аннотация: Описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Петров, Д. Б. Романенко, И. М. Ревенко, В. А.