Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 621.317/И 37 Автор(ы) : Эйдукас Д. Ю., Орлов Б. В., Попель Л. М. Заглавие : Измерение параметров цифровых интегральных микросхем : научное издание Выходные данные : М.: Радио и связь, 1982 Колич.характеристики :368 с.: ил.; 20 см Серия: Измерения в электронике Цена : 1.30 р. ГРНТИ : 45.31 + 47.33.31 УДК : 621.317:621.382-182.48 ББК : 32.85 Предметные рубрики: Электротехника-- Электроизмерительная техника Электроника-- Интегральные микросхемы Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электротехника--электрические измерения--электроника--интегральные микросхемы--цифровые интегральные микросхемы--микропроцессорные схемы--ис--бис--матричные бис--параметры ис--коммутатор--источники напряжения--источники тока--средства сопряжения Аннотация: Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статистических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Эйдукас, Д. Ю. Орлов, Б. В. Попель, Л. М. Эйдукас, Д. Ю. Орлов, Б. В.