Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 621.315/В 16 Автор(ы) : Вальковская М. И., Пушкаш Б. М., Марончук Э. Е. Заглавие : Пластичность и хрупкость полупроводниковых материалов при испытаниях на микротвердость Выходные данные : Кишинев: Штиинца, 1984 Колич.характеристики :108 с.: ил.; 21см Цена : 1.20 р. ГРНТИ : 45.09 УДК : 621.315.592:002.3:620.17 Предметные рубрики: Электротехника-- Полупроводниковые материалы Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электротехника--полупроводниковые материалы--пластичность--хрупкость--микротвердость--кремний--германий--кристаллические структуры--деформирование кристаллов--анизотропия--склерометрическая микротвердость Аннотация: В монографии обобщен материал по изучению пластичности и хрупкости ряда полупроводниковых кристаллов при действии сосредоточенной нагрузки.Приведены новые результаты исследования и объяснения наблюдаемой анизотропии микротвердости.Показано,что метод микротвердости может быть использован для выявления включений в эпитаксиальных структурах,полученных на основе арсенида галлия. Рассмотрены некоторые вопросы по влиянию легирования и термообработки на микротвердость и распределение дислокаций в исследуемых полупроводниковых сигналлов. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Пушкаш, Б. М. Марончук, Э. Е.