Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 621.315(075)/П 12 Автор(ы) : Павлов Л. П. Заглавие : Методы измерения параметров полупроводниковых материалов : Учеб.для вузов по спец."Полупроводниковые и микроэлектронные приборы" . -2-е изд.,перераб.и доп. Выходные данные : М.: Высшая школа, 1987 Колич.характеристики :239 с.: ил.; 22см Цена : 0.85,20.00 р. ГРНТИ : 45.09.35.01.33 УДК : 621.315.592.08(075.8) ББК : 31.233 Предметные рубрики: Электротехника-- Полупроводники Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводники--удельное сопротивление--эдс холла--магнитосопротивление--неравновесные носители заряда--методы измерения Аннотация: В книге изложены основы методов измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов, рассматриваются вопросы их практической реализации; даны условия и границы применения методов измерения; проведён анализ причин возникновения погрешностей. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)