Новые поступления (книга в стадии обработки) Кларк, Эшли Р.. Микроскопические методы исследования материалов [Текст] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 (англ.) : 175.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Эберхардт, Колин Н. Баженов, С. Л. |