Новые поступления (книга в стадии обработки) Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2004. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-018-0 : 275.00 р.
Рубрики: Материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- исследования материалов -- микроструктура -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- дифракционный анализ -- дифракция -- оптическая микроскопия Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Каплан, У. Баженов, С. Л. |