Новые поступления (книга в стадии обработки) Порай-Кошиц, Михаил Александрович. Основы структурного анализа химических соединений [Текст] : учеб. пособие для вузов / М. А. Порай-Кошиц. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1989. - 292 с. - ISBN 5-06-000074-5 : 0.40 р. Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): анализ соединений -- дифракция рентгеновских лучей -- нейронография -- пособия для вузов -- рентгеноструктурный анализ -- симметрия кристаллов -- структурная кристаллография -- структурный анализ -- электронография Аннотация: Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. Держатели документа: Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) |