Новые поступления (книга в стадии обработки) Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2-х кн. : монография / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир , 1984. Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил., табл. ; 22 см. - 3.00 р. Тит. л. парал. на англ. яз.
Рубрики: Физика--Электронные явления Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СТЕРЕОМИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРОМЕТРЫ Аннотация: В первой книге монографии изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Гоулдстейн, Дж. Goldstein J. I. Ньюбери, Д. Newbury D. E. Эчлин, П. Echlin P. Джой, Д. Joy D. C. Фиори, Ч. Fiori C. Лифшин, Э. Lifshin E. Гвоздовер, Р. С. \\пер.\\ Комолова, Л. Ф. \\пер.\\ Петров, В. И. \\ред.\\ |