Новые поступления (книга в стадии обработки) Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники [Электронный ресурс] : рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - Электрон. текстовые дан. - М. : МИСИС, 2006. - on-line. - Систем. требования: 128 MB RAM оперативной памяти. - 178.20 р. Режим доступа : http://lib.sstu.ru/index.php/elmrazdel/melellib/3321-elreselibonline. Количество одновременных доступов 15
Рубрики: Испытания материалов--Рентгенография Электроника--Материалы электронной техники Кл.слова (ненормированные): ДИФРАКЦИОННАЯ ТЕОРИЯ -- ДИНАМИЧЕСКАЯ ТЕОРИЯ -- ФОРМИРОВАНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЙ -- ДЕФЕКТЫ -- ДИФРАКЦИЯ -- СХЕМЫ ДИФРАКЦИИ -- ФОРМИРОВАНИЕ КОНТРАСТА -- СХЕМА ОТРАЖЕНИЯ -- БРЭГГ -- ЛАУЭ -- ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ -- СТРУКТУРА ЭЛЕКТРОНИКИ Аннотация: В книге изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции : схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отметить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в том числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Мильвидский, А. М. |