Новые поступления (книга в стадии обработки) Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]; под общ. ред. М. М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 208 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 407.00 р. Гриф: допущено умо по образованию в области металлургии в качестве учеб. пособия для студ. вузов, обуч. по напр. "Металлургия" и "Физическое материаловедение"
Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ Электроника--Электронная микроскопия Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ -- СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ГАЛЬВАНИЧЕСКОЕ ЦИНКОВАНИЕ -- ЦИНКОВОЕ ПОКРЫТИЕ -- ТРЕЩИНЫ -- СВАРНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ -- ЦИНКОВАНИЕ -- КОРРОЗИЯ -- УСТАЛОСТНОЕ РАЗРУШЕНИЕ -- ФРЕТТИНГ -- ФРАКТОГРАФИЯ Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Криштал, М. М. Ясников, И. С. Полунин, В. И. Филатов, А. М. Ульяненков, А. Г. Криштал, М. М. |