Новые поступления (книга в стадии обработки) Дехтяр, Ю. Д. Экзоэлектронная спектроскопия точечных дефектов полупроводников. Конспект лекций [Текст] : курс лекций / Ю. Д. Дехтяр ; Риж. техн. ун-т. - Рига : РТУ, 1993. - 59 с. ; 20 см. - Библиогр.: с. 48-59 (101 назв.) . - 28.00 р.
Рубрики: Физика--Полупроводники Кл.слова (ненормированные): ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ТОЧЕЧНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- ДИАГНОСТИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- ЭФФЕКТ СТЕБЛЕРА-ВРОНСКОГО -- СПЕКТРОСКОПИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- ЭКЗОЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭКЗОЭМИССИЯ КРЕМНИЯ Аннотация: Рассмотрено новое направление диагностики поверхностных слоев полупроводников, основанное на регистрации фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии (ФТСЭ). Проанализированы механизмы этого явления для материалов с энергетической целью. Описаны эффект оптического гашения ФТСЭ: экзоэмиссионное проявление в axSi:H эффекта Стеблера-Вронского (фотоиндуцированные структурные превращения). Проиллюстрированы возможности экзоэмиссионной спектроскопии точечных дефектов полупроводников. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |