Новые поступления (книга в стадии обработки) Власов, Г. С. Исследование метрологических характеристик тонкопленочных микросхем и разработка методов и средств их функциональной подгонки и контроля [Текст] : монография / Г. С. Власов. - Пенза : Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2003 - . Ч. 1 / Г. С. Власов. - 280 с. : ил. - Библиогр.: с. 266-280 (176 назв.) . - ISBN 5-94170-040-7 : 60.00 р.
Рубрики: Электроника--МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- тонкопленочные микросхемы -- МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ -- тонкопленочные технологии Аннотация: Рассматриваются различные типы интегральных микросхем (ИМС): полупроводниковые, толстопленочные и тонкопленочные; разбираются достоинства пленочных технологий, одним из которых является принципиальная возможность доведения на операциях подгонки определенных параметров качества ИМС до значений, близких к номинальным. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |