Новые поступления (книга в стадии обработки) Микроанализ и растровая электронная микроскопия [Текст] : пер. с фр. / Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 392-404. - 5.10 р. Предм. указ.: с. 404-407
Рубрики: Химия--Аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): аналитическая химия -- электронная микроскопия -- эмиссия -- рентгеновские излучения -- спектрография -- ядерный микрозонд -- методы микроанализа Аннотация: В книге изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже- спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Морис, Ф. Мени, Л. Тиксье, Р. |