Новые поступления (книга в стадии обработки) Дунаев, С. Д. Испытание и исследование БИС [Текст] : учеб. пособие для вузов / С. Д. Дунаев ; Воронежский политехн. ин-т. - Воронеж : ВПИ, 1981. - 92 с. : ил. ; 20см. - 0.15 р.
Рубрики: Электроника--Интегральные схемы Кл.слова (ненормированные): БИС -- испытание БИС -- исследование БИС -- контроль качества -- контроль надежности -- микроэлектроника Аннотация: Изложены основные понятия о качестве ,надежности и способах исследований и способах исследований больших интегральных схем на устойчивость к внешним дестабилизирующим факторам.Рассмотрены особенности измерений электрических параметров больших интегральных схем микропроцессорного набора.Приводятся способ оценки эффективности средств контроля качества и надежности современных изделий микроэлектроники.Для студентов вузов. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |