Новые поступления (книга в стадии обработки)
   
    Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем [Текст] : материалы IV Всесоюзного научно-технического семинара / Рязанский радиотехн. ин-т ; отв. ред. П. Т. Орешкин. - Рязань : РРТИ, 1988. - 160 с. : ил. ; 21см. - 0.85 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- микроэлектроника -- диоды шотки -- барьерные структуры -- барьерные слои -- магниточувствительность -- фотоприемники
Аннотация: В сборнике рассмотрены пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Орешкин, П. Т.