Новые поступления (книга в стадии обработки) Чернышев, А. А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем [Текст] / А. А. Чернышев. - М. : Радио и связь, 1988. - 256 с. : ил. ; 22см. - ISBN 5-256-00042-Х : 1.20 р.
Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- ИМС -- радиоэлектронная аппаратура -- основы теории надежности -- радиационное воздействие -- прогнозирование надежности Аннотация: В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий на надежность.Подробно рассмотрены дефекты,возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |