Новые поступления (книга в стадии обработки) Комраков, Б. М. Измерение параметров оптических покрытий [Текст] / Б. М. Комраков. - М. : Машиностроение, 1986. - 136 с. : ил. ; 20см. - (Б-ка приборостроителя). - 0.40 р.
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника--Оптоэлектроника Кл.слова (ненормированные): тонкослойные покрытия -- интерферометрия -- рефрактометрия -- поляриметрические измерения -- спектральная теория сигналов -- спектральная аппаратура -- лучевая прочность Аннотация: Изложен комплекс вопросов по измерению толщины,показателя преломления,дисперсии и других параметров оптических покрытий,используемых в оптоэлектронике. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |