Новые поступления (книга в стадии обработки) Измерения и контроль в микроэлектронике [Текст] / под ред. А. А. Сазонова. - М. : Высшая школа, 1984. - 367 с. : ил. ; 20см. - 1.00 р.
Рубрики: Электроника--Интегральные микросхемы Кл.слова (ненормированные): измерения -- контроль ИМС -- испытание ИМС -- технология ИМС Аннотация: В книге рассматриваются основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при производстве интегральных микросхем. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Сазонов, А. А. |