Новые поступления (книга в стадии обработки) Горлов, М. И. Обеспечение и повышение надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем в процессе серийного производства [Текст] : науч. изд. / М. И. Горлов, Л. П. Ануфриев, О. Л. Бордюжа ; ред. М. И. Горлов. - [Б. м.] : Интеграл, 1997. - 390 с. : ил. ; 20см. - 10.00 р.
Рубрики: Электроника--Интегральные схемы--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): микроэлектроника -- полупроводниковые приборы -- интегральные схемы -- электротермотренировка -- диагностические методы -- технологические процессы Аннотация: Рассмотрены вопросы обеспечения и повышения надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем при их производстве, вопросы отбраковки потенциально ненадежных изделий различными методами, в том числе диагностическими неразрушающими методами, альтернативными электротермотренировке. Для специалистов. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Ануфриев, Л. П. Бордюжа, О. Л. Горлов, М. И. |