Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 112921 620.22/Б 874 Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У. Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004 Колич.характеристики :377, [7] с.: ил. Серия: Мир материалов и технологий Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377 ISBN, Цена 5-94836-018-0 (в пер.): 191.88 р. ISBN, Цена 0 471 98501 5 (англ.): Б.ц. УДК : [620.22:539.2](075.8) Предметные рубрики: техника-- материаловедение Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроструктуры--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--микроанализ--химический анализ Экземпляры : всего : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2) Свободны : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2) Доп. точки доступа: Каплан, У. Баженов, С. Л. Егорова, О. В.