Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 242071 539.26+548.73/Б86 Автор(ы) : Боуэн Д. К., Таннер Б. К. Заглавие : Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : монография Параллельн. заглавия :High resolution X-RAY diffractometry and topography Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2002 Колич.характеристики :273, [7] с.: ил. Примечания : Библиогр. ISBN (в пер.), Цена 5-02-024963-7: 105.00 р. УДК : 539.26:621.315.592 + 548.73 Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела химия-- кристаллография Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская дифрактометрия--дифрактометрия--рентгеновская топография--топография--дифракция рентгеновских лучей--высокоразрешающая дифрактометрия--дефекты в кристаллах--синхротронное излучение--эпитаксиальные слои--материаловедение--тонкие пленки--рассеяния теория Экземпляры : всего : ОХФ(2) Свободны : ОХФ(2) Доп. точки доступа: Таннер, Б. К.