Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 137461 621.315.592+621.385.833/Р94 Автор(ы) : Рыков, Сергей Александрович Заглавие : Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2001 Колич.характеристики :52 с Серия: Новые разделы физики полупроводников Примечания : Библиогр. ISBN (в пер.), Цена 5-02-024956-4: 20.00 р. УДК : 621.315.5 + 621.385.833 Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы-- полупроводниковая электроника Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая туннельная микроскопия--атомарно-силовые микроскопы--полупроводниковые материалы--наноструктуры Экземпляры : всего : ОХФ(5), ОУОЕН(7) Свободны : ОХФ(5), ОУОЕН(7)