A914179-ОХФ Рид, Стефан Дж. Б.. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Дж. Б. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петрова, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - Москва : Техносфера, 2008. - 229, [3] с. : ил. - (Мир наук о Земле). - Библиогр.: с. 205-215. - Предм. указ.: с. 216-219. - ISBN 978-5-94836-177-2 (в пер.). - ISBN 0-521-84875-X (англ.) : 450.00 р.
Рубрики: геология--геология Кл.слова (ненормированные): геология -- электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия Доп. точки доступа: Петров, Д. Б. Романенко, И. М. Ревенко, В. А. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |