Вид документа : Статья из сборника (однотомник) Шифр издания : Автор(ы) : Усанов, Дмитрий Александрович, Скрипаль, Александр Владимирович, Пономарев, Денис Викторович, Латышева, Екатерина Викторовна, Феклистов, Владимир Борисович Заглавие : Измерение параметров нанометровых металлических пленок в слоистых структурах с использованием волноводно-диэлектрического резонанса Место публикации : СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КРЫМИКО'2016): материалы 26-й Международной Крымской конференции (Севастополь, 4-10 сент. 2016 г.) : в 13 т. - Севастополь: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Севастопольский государственный университет" , 2016. - Т. 9. - С. 2023-2029 Предметные рубрики: физика ДОКУМЕНТ ПРОСМОТРЕН DE VISU: НЕТ Доп. точки доступа: Усанов, Дмитрий Александрович (д-р физ.-мат. наук, профессор) Скрипаль, Александр Владимирович (д-р физ.-мат. наук, профессор) Пономарев, Денис Викторович (аспирант) Латышева, Екатерина Викторовна (инженер) Феклистов, Владимир Борисович (канд. физ.-мат. наук, доцент)