Определение оптических свойств и толщины нанослоев по угловым зависимостям коэффициента отражения [Текст] / Д. И. Биленко [и др.] // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, вып. 10. - С. 89-94 . - ISSN 0044-4642 Рубрики: физика ДОКУМЕНТ ПРОСМОТРЕН DE VISU: НЕТ Доп. точки доступа: Биленко, Давид Исакович (канд. физ.-мат. наук, професорР) Галушка, Виктор Владимирович (инженер) Полянская, В. П. Сагайдачный, Андрей Александрович (мл. науч. сотрудник)