Измерение параметров нанометровых металлических пленок в слоистых структурах с использованием волноводно-диэлектрического резонанса [Текст] / Д. А. Усанов [и др.] // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КРЫМИКО'2016) : материалы 26-й Международной Крымской конференции (Севастополь, 4-10 сент. 2016 г.) : в 13 т. - Севастополь : Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Севастопольский государственный университет" , 2016. - Т. 9. - С. 2023-2029 Рубрики: физика ДОКУМЕНТ ПРОСМОТРЕН DE VISU: НЕТ Доп. точки доступа: Усанов, Дмитрий Александрович (д-р физ.-мат. наук, профессор) Скрипаль, Александр Владимирович (д-р физ.-мат. наук, профессор) Пономарев, Денис Викторович (аспирант) Латышева, Екатерина Викторовна (инженер) Феклистов, Владимир Борисович (канд. физ.-мат. наук, доцент)