Использование волноводно-диэлектрического резонанса для измерения параметров нанометровых металлических пленок в слоистых структурах [Текст] / Д. А. Усанов [и др.]> // Электроника и микроэлектроника СВЧ : сборник статей V Всероссийской конференции. - Санкт-Петербург : Издательство Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета "ЛЭТИ", 2016. - Т. 2. - С. 290-294. - Имеется электрон. версия публикации. - URL: http://www.mwelectronics.ru/2016/Papers/PDF_2/290-294.pdf (дата обращения: 04.07.2019) . - ISBN 978-5-7629-1773-5 Рубрики: физика Кл.слова (ненормированные): резонанс -- волноводно-диэлектрический резонанс -- металлодиэлектрические структуры -- нанометровые металлические слои -- нанометровые металические пленки -- слоистые структуры ДОКУМЕНТ ПРОСМОТРЕН DE VISU: НЕТ Доп. точки доступа: Усанов, Дмитрий Александрович (д-р физ.-мат. наук, профессор) Скрипаль, Александр Владимирович (д-р физ.-мат. наук, профессор) Пономарев, Денис Викторович (аспирант) Латышева, Екатерина Викторовна (инженер) Феклистов, Владимир Борисович (канд. физ.-мат. наук, доцент) |