Determination of the conductance and thickness of semiconductor wafers and nanometer layers with the use of one-dimensional microwave photonic crystals [Текст] / S. A. Nikitov [и др.] // Doklady Physics. - 2013. - Т. 58, № 1. - С. 6-8. - Оригинальная версия: Доклады Академии наук. 2013. Т. 448. № 1. С. 35-37. Рубрики: Физика ДОКУМЕНТ ПРОСМОТРЕН DE VISU: НЕТ Доп. точки доступа: Nikitov, S. A. (чл.-корр. РАН) Никитов, Сергей Аполлонович Gulyaev, Y. V. Гуляев Ю. В. Usanov, D. A. (д-р физ.-мат. наук, профессор) Усанов, Дмитрий Александрович Skripal, A. V. (д-р физ.-мат. наук, профессор) Скрипаль, Александр Владимирович Ponomarev, D. V. (инженер) Пономарев, Денис Викторович