Новые поступления (книга в стадии обработки) Величко, А. А. Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии [Электронный ресурс] : Учебно-методическое пособие / А. А. Величко, Б. Б. Кольцов. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2012. - 28 с. - ISBN 978-5-7782-1924-3 : Б. ц. Книга находится в премиум-версии ЭБС IPR BOOKS.
Кл.слова (ненормированные): определение толщины -- эпитаксиальный слой -- ширина зоны -- запрещенная зона -- полупроводник -- Фурье-спектрометр Аннотация: Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурье- спектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы. Доп. точки доступа: Кольцов, Б. Б. |