Новые поступления (книга в стадии обработки)     Величко, А. А.     Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии [Электронный ресурс] : учебное пособие / А.А. Величко. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2012. - 28 с. - Б. ц. Доп. точки доступа: Кольцов, Б.Б.